번호 |
제품이미지 |
제품명 |
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저진공 전도성 코팅기
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전자현미경 분석 서비스
전자현미경 분석 서비스
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동결 치환 및 저온 임베딩 시스템
Leica EM FSP (동결치환 처리기)는 Leica EM AFS2와 결합된 자동 시약취급시스템으로, 동결치환과 PLT 애플리케이션 모두에 시약을 제공해 줍니다.
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4
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초정밀 고압 동결기
특별한 동결 원리로 고압에서 수분을 함유한 시료들을 극저온 고정시키고 세포 과정의 비밀을 밝힙니다.
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자동 낙하 동결기
EM GP2는 자동 블로팅으로 초과한 유체를 제거한 후 전자현미경 그리드에 펼쳐져 있는 유체나 극도로 얇은 시료를 액체 에탄으로 낙하 동결시킵니다.
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전자동 조직 처리기
독성물질로 부터 안전을 위한 자동화, 일정한 온도 유지용 챔버
동일한 전체 바이알의 샘플이 동일하게 준비 될뿐만 아니라 직관적 인 소프트웨어를 통해 장착된 바이알 전체에서 재현성을 위해 전체 프로토콜의 간단한 프로그래밍 및 재로드가 가능합니다.
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전자동 임계점 건조기
Leica EM CPD300 임계점 건조기에서 꽃가루, 조직, 식물, 곤충 등 생물 시료와 SEM 분석용 MEMS(마이크로 전기기계 시스템) 등 산업 샘플의 건조를 전자동으로 준비할 수 있습니다.
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초박 절편 시료 전자동 콘트라스팅 장치
Leica EM AC20 극박 절편용 자동 콘트라스팅 장치는 사용자의 시약 접촉을 최소화하고 시약소비를 확실하게 감소시킵니다.
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정제용 약학 밀링시스템
약학 연구에 이용되는 Leica EM RAPID 밀링시스템은 고형 약종의 활성성분 분포 분석을 위한 시료 전처리를 가능하게 합니다.
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초저온 전자동 전도성 코팅기
유리화된 동결 구조는 환경적 영향에 극단적인 민감성을 가지며 아티팩트가 형성되지 않도록 보호해야 합니다.
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고진공 고배율용 전도성 코팅기
Leica EM ACE600에 맞춘 진공 극저온 전환 시스템인 Leica EM VCT는 오염이 없는 극저온 SEM 샘플 준비에 이상적인 솔루션이 됩니다.
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유리칼 제조기 Glass knife Maker
EM, LM 응용분야에서 완벽한 초박절편을 제작하기 위한 완벽한 유리 나이프
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초박 절편기용 초저온 챔버
TEM, SEM, AFM 및 LM 관찰을 위한 극저온 절편(-15~-185°C)을 준비해야 한다면, Cryochamber Leica EM FC7을 Ultramicrotome Leica EM UC6 또는 Leica EM UC7에 장착하여 Cryoultramicrotome으로 바꾸세요.
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전자동 다목적 초박 절편 장비
초박절편 제작장비(Ultramicrotome)인 Leica EM UC7은 TEM, SEM, AFM 및 LM 조사를 위해 생물/산업체 시료를 완벽하고 매끄러운 표면으로 준비 할 수 있을 뿐만 아니라, 준초박절편(Semi-thin section) 및 초박절편(Ultrathin secion) 제작이 용이합니다.
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3D Tomography를 위한 전자동 연속 초박 절편 장비
ARTOS 3D 초박 절편기로 일관된 Array tomography를 위한 초박 연속 절편 제작 시간을 단축할 수 있습니다
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이온빔 밀링 시스템
EM TIC 3X 는 SEM/AFM 시료 전처리를 위한 초 정밀 Triple Ion Beam Milling system 이며, Ion milling 시 Ion beam 에 의한 sample 손상방지 및 작업 속도를 획기적으로 개선할 수 있는 유일한 Solution 입니다.
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표면 처리 시스템 - Milling, Sawing, Grinding, Polishing 동시처리
Leica EM TXP는 Ion beam milling system 사용 전 사전에 Target sample 의 Milling, Sawing, Grinding, Polishing을 위한 Unique 한 Target surface 전 처리 장비 입니다.
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전처리 완료후 안전한 Sample Transfer 장치(Leica EM VCT500)
Leica EM VCT500 은 진공, 극저온, 온도 유지, 시료 외부 노출 방지등 시료를 전처리된 그대로 외부 오염이나 노출 없이 SEM/TEM/AFM/LM 으로 이동하는 장치 입니다.
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