SEM 분석과 TEM 분석에 필요한 동질의 전도성 금속 코팅이나 카본 코팅이 더욱 편리해졌으며 스퍼터 코팅기나 카본 스레드 증발 코팅기로 구성하면 전자동 시스템을 통해 완벽하게 재현 가능한 결과를 얻을 수 있습니다.

Leica EM ACE600에 맞춘 진공 극저온 전환 시스템인 Leica EM VCT는 오염이 없는 극저온 SEM 샘플 준비에 이상적인 솔루션이 됩니다.

유리화된 동결 구조는 환경적 영향에 극단적인 민감성을 가지며 아티팩트가 형성되지 않도록 보호해야 합니다.

Leica EM TXP는 Ion beam milling system 사용 전 사전에 Target sample 의 Milling, Sawing, Grinding, Polishing을 위한 Unique 한 Target surface 전 처리 장비 입니다.

약학 연구에 이용되는 Leica EM RAPID 밀링시스템은 고형 약종의 활성성분 분포 분석을 위한 시료 전처리를 가능하게 합니다.

EM TIC 3X 는 SEM/AFM 시료 전처리를 위한 초 정밀 Triple Ion Beam Milling system 이며, Ion milling 시 Ion beam 에 의한 sample 손상방지 및 작업 속도를 획기적으로 개선할 수 있는 유일한 Solution 입니다.

초박절편 제작장비(Ultramicrotome)인 Leica EM UC7은 TEM, SEM, AFM 및 LM 조사를 위해 생물/산업체 시료를 완벽하고 매끄러운 표면으로 준비 할 수 있을 뿐만 아니라, 준초박절편(Semi-thin section) 및 초박절편(Ultrathin secion) 제작이 용이합니다.

ARTOS 3D 초박 절편기로 일관된 Array tomography를 위한 초박 연속 절편 제작 시간을 단축할 수 있습니다

TEM, SEM, AFM 및 LM 관찰을 위한 극저온 절편(-15~-185°C)을 준비해야 한다면, Cryochamber Leica EM FC7을 Ultramicrotome Leica EM UC6 또는 Leica EM UC7에 장착하여 Cryoultramicrotome으로 바꾸세요.

EM, LM 응용분야에서 완벽한 초박절편을 제작하기 위한 완벽한 유리 나이프

Leica EM CPD300 임계점 건조기에서 꽃가루, 조직, 식물, 곤충 등 생물 시료와 SEM 분석용 MEMS(마이크로 전기기계 시스템) 등 산업 샘플의 건조를 전자동으로 준비할 수 있습니다.

독성물질로 부터 안전을 위한 자동화, 일정한 온도 유지용 챔버
동일한 전체 바이알의 샘플이 동일하게 준비 될뿐만 아니라 직관적 인 소프트웨어를 통해 장착된 바이알 전체에서 재현성을 위해 전체 프로토콜의 간단한 프로그래밍 및 재로드가 가능합니다.

Leica EM AC20 극박 절편용 자동 콘트라스팅 장치는 사용자의 시약 접촉을 최소화하고 시약소비를 확실하게 감소시킵니다.

EM GP2는 자동 블로팅으로 초과한 유체를 제거한 후 전자현미경 그리드에 펼쳐져 있는 유체나 극도로 얇은 시료를 액체 에탄으로 낙하 동결시킵니다.

Leica EM VCT500 은 진공, 극저온, 온도 유지, 시료 외부 노출 방지등 시료를 전처리된 그대로 외부 오염이나 노출 없이 SEM/TEM/AFM/LM 으로 이동하는 장치 입니다.

특별한 동결 원리로 고압에서 수분을 함유한 시료들을 극저온 고정시키고 세포 과정의 비밀을 밝힙니다.

Leica EM FSP (동결치환 처리기)는 Leica EM AFS2와 결합된 자동 시약취급시스템으로, 동결치환과 PLT 애플리케이션 모두에 시약을 제공해 줍니다.

전자현미경 분석 서비스