SENDURO_ 자동 맵핑 엘립소미터

SENresearch_ R&D 및 고성능 엘립소미터

SE500adv CER Ellipsometer 단파장 + 리플렉토미터 (Advanced Combined Ellipsometery+ Reflectometer)

테이블탑 단일 지점 Carrier Life Time 측정 장치로 최대 156mm 브릭의 두꺼운 샘플을 위한 수동식 방식으로 측정할 수 있음

Photoconductivity 측정

Microwave cavity에 시료가 포함되어 변화된 resonant microwave field를 디텍팅하는 방식으로 Sensitivity가 우수하고, 낮은 여기전압 사용으로 steady state상태에서 측정을 함으로써, 표면에 영향을 덜 받아 bulk 시료 측정에 유리함.

자기장 이미지 (MFI) 기술을 통해 비접촉 및 정량적으로 전류를 분석합니다.

두 개의 센서를 사용한 측정 거리를 1.25mm로 줄인 고해상도 모델

PV모듈 품질검사장비로 모든 연결부위의 전기적 결함을 안정적으로 감지할 수 있습니다

전류흐름을 시각화학여 현장에서 간단히 품질검사를 할 수 있는 장비